表格中给出的数据，我觉得和我平时测试中发现的有一些出入，有些地方不知楼主是否注意了

1、基准源的准确性和稳定性是两个不同的指标，前者影响的是一批原件的离散型，后者才影响精度和采样值的稳定。就一只单片机来说，准确性影响不大（当然MSP430准确性的确很一般），至于稳定性，测试时有一点需要特别注意：Vref引脚外部一定要接电容，最好是4.7u+0.1u，以降低基准源上的噪声。

2、输入信号在0.5V左右，也就是说内部PGA的增益只要为1就够了，根据我的经验，如果去过采样率1024的话，即便不用多次采样平均，也能够获得14位以上的稳定值。不管采用外部还是内部基准源，都应该和楼主提供的外部参考源表格现象是一致的。在测量是需要注意：输入缓冲器的设置可能会影响稳定性、端口处应该加滤波电容。

3、输入信号如果是外部基准源通过电位器分压得到的话，测试显然有失公允：一方面，输入的偏移和基准源的偏移同步，会抵消掉；另一方面，电位器分压给了差分输入确定的共模电压，相比不确定的共模电压，稳定性好得多。应该采用独立的输入信号。

1. 不知你改过之后，测量结果有没有改善，呵呵
2. 零偏是非常正常的线性，软件中一定要根据这个做处理的。此外，有一种方法可以降低零偏的影响，即：SD16A中设计第7通道是短接线，将AD测量值减去第7通道的测量值，会大大改善零偏的现象。
3. 过采样率我也没有仔细研究过，我的理解是：越大越慢，越大越好，等价于多次测量取平均值。
4. 不知道你说的是什么公式，肯定是有问题了，建议你查查TI或者MAXIM等公司的网站，有专门这方面的论述的。
5. 输入的偏移和基准源的偏移同步，会抵消掉。意思是说：基准源分压作为输入信号，因为输入和基准分别出现在分子和分母上，只要电位器分压比确定，基准源的偏差和波动，理论上会互相抵消，很容易获得更好的效果，但不能反映实际的情况。
6. 电位器分压同时给定了差分输入正负端的绝对电位，共模电压是确定值，有限的共模抑制比将不会反映到测量结果重，也更容易获得好的结果，但实际电路中，按照标准的差分输入接法，共模电压往往是不确定的值。
7. 你在测量中，应该增加线性度的测量。如有条件，还应增加温漂测量。

输入口是正负表示差分输入，符合Sigma-Delta型AD的一般特点。
内部有没有反馈端——不明白这句话的意思。
增益也是Sigma-Delta型AD的特点之一，即前端有个PGA（可编程增益放大器），你可以理解为内部AD的前端集成了一个差分输入的运放电路，且反馈网路已经在内部设好，通过PGA的增益选择，可以调整其放大倍数，很适合测量小信号，分辨率可以做到10uV左右。
但这种放大会引入新的噪声，且增益越高，信噪比损失就越大，所以随着PGA增益的提高，有效数字位数会有下降。