【例  程】:
//基于MC430F14开发板实验例程
#include "msp430x14x.h"
#include "define.h"
//IIC总线操作成失标志
#define error 0x01 //错误
#define right 0x00 //正确
#define AT24_ADD 0xA0 //24c02芯片地址
#define write 0x00 //写
#define read 0x01 //读
#define Quantity 4 //操作数量
#define incept_add 0x00 //操作内部地址首址
//写入AT24C02数据表
unsigned char write_table[4]={'a','b','c','d'};
//读出AT24C02数据缓冲区
unsigned char read_Buff[4]={'x','x','x','x'};
unsigned char iic_check; //检查标志,可选的.

//******************************************************
//MSP430F14初始化
void init (void)
{
　P1DIR |= BIT1; //LED输出
　P1OUT |= BIT1; //关LED
}

//******************************************************
//软延时
void delay(unsigned int n)
{　unsigned int k;
　for(k=0;k<n;k++);
}

//******************************************************
//检验两组数据是否正确,如在检验数据中有一组不正确,则退出.
//*Data_REF参考值数组,*Data_CHK被检验数组,n检验数量
//并返回一个成败标志.
unsigned char data_check(unsigned char *Data_REF, unsigned char *Data_CHK,
unsigned char n)
{　unsigned char chk ;
while(n)
　{
　if(Data_REF[n-1]==Data_CHK[n-1]) //进行校对
　　{ chk = right; //正确
　　n--; //下一位
　　}
　else
　{ chk = error; //校对有错
　　continue; //马上退出
　}
 }
return chk ; //返回校对成败标志.
}

//******************************************************
void main(void)
{
　WDTCTL=WDTPW+WDTHOLD; //停止WDT
　init(); //初始化
//向AT24C02芯片写入4字节数据
　iic_check=IIC(write_table,Quantity,incept_add,(AT24_ADD|write));
　delay(600); //写入后,做一个适当的延时
　//向AT24C02芯片读出4字字节数据
　iic_check=IIC(read_Buff,Quantity,incept_add,(AT24_ADD|read));
　//判别校验是否成功
　if(!(data_check(write_table,read_Buff,Quantity)))
　　P1OUT ^= BIT1; //LED亮则表示IIC总线写读操作成
　LPM1; //最后进入低功耗模式1
}
//******************************************************
  

　　　 　　　从IAR调试软件可以查看到从24C02读出的RAM数组内容

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