关于MSP430的SD16模块测试问题[达人指点] - 微控网

xixi风

2008-10-13 19:03:15
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楼主

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关于MSP430的SD16模块测试问题[达人指点]

有哪位大虾，使用过MSP430F4270的SD16模块，并做过测试啊！
能不能说提供几点意见！我测量的结果和uers guider上说的
不一样啊！测试的电压不准！

[ 此贴最后由DC在2008-10-26 1:08:40编辑过 ]

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cbing2000

2008-10-14 12:44:23
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我在等！一直在等！~

上！上！

yangchaochao

2008-10-14 13:14:29
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问谷风

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xixi风

2008-10-14 14:04:59
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DC版主有没有用过啊！
帮助帮助！谢谢了！

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DC

2008-10-14 14:54:01
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xixi风,很抱歉.到目前为止,我还没有用过MSP430单片机的SD16这模块.
因为我之前没有出过带SD16的芯片板子,所以一直没有用.
但将来会不会推出F42x这类板子暂时还是未知数.

[ 此贴最后由DC在2008-10-19 0:59:39编辑过 ]

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xixi风

2008-10-16 16:57:38
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我已经测试过了!还是挺好用的！不过基准源最好能选用外部标准基准源，不然测试的电压将会非常不准！在选用外部基准源后（我这里使用的是UJ33直流电位差计），测试的值非常准每次最大变化只在+10内变换。如果输入测试电压也选择基准电压的话，那测试值就更准了！

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DC

2008-10-16 17:01:41
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嗯，谢谢你的反馈。不过我有几个问题想请教一下的。
[1]你认为内部的参考电压不准，能不能说一两个例子来讲解一下。在我的理解中，430内部带的参考源在一般室温下内部参考源还算可以的。
[2]你采用外部参考源是什么芯片电路？内参考和外参考测量同样一个信号，差别有多大。
[3]你现在测量校准时用的单端还是差分输入？AD前端有没有做低通滤，如果有你的低通是如何处理？
对于SD16的模块进行测量较准是一个重要的步骤。
谢谢！

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xixi风

2008-10-16 20:13:41
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过采样率为1024，时钟频率262144HZ，输入电压为电阻分压后输入0.5V。下表为改变基准源后的测量值：

采样次数1024
基准源选择外部
（1.0550V）次数平均值    MIN    MAX       极值
-------------------------------------------------------------------------------
            1 62117 62113 62122 0.499988
2 62116 62111 62122 0.499980
3 62116 62108 62120 0.499980
-------------------------------------------------------------------------------
采样次数1024
基准源选择内部
（1.2V）次数平均值    MIN    MAX       极值
            1 53973 53325 54654 0.494145
2 53923 53306 54280 0.493687
3 53907 53312 54267 0.49354
-------------------------------------------------------------------------------
上面一栏为使用外部基准源的时候测量值，可以看出最大和最小值差别并不大，平均值变化也不大。下面一栏为内部基准源，最大值和最小值差别就比较大。
使用的精密基准源为直流电位差计，各种参数都能满足需要，其输出精度如下表所示：
量程范围最小分辨率准确度
*5    0~1.0550 50uv ±0.05%

不过还是有不懂的地方，在SD_16中的fm和fs具体含义是什么？还有那个过采样率大，是不是采样速度就变慢了？DC能不能帮忙解释解释！
本来是个表格的可是粘上去就变了！应该可以看的明白吧！

[ 此贴最后由DC在2008-10-16 21:53:24编辑过 ]

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DC

2008-10-17 02:01:07
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[2]你采用外部参考源是什么芯片电路？
[3]你现在测量校准时用的单端还是差分输入？AD前端有没有做低通滤；如果有你的低通是什么电路？
你还没有回答上面问题，谢谢。

对于∑-∆类型的ADC而言，他的结构采样前端是需要对模拟信号进行高速的多次采样的，对于被测信号而言，他的采样频率是被采样信号的上百倍或更高。而每一次采样时都会与前一次采样结果进行累加，这样做的目的是为了实现统计平均值结果；同时方便后级的数字处理，如FIR滤波器及抽取样输出。而你所提及的过采样大，只是意味着也的采样次数增加。对于∑-∆-ADC内部而言只是数字处理的问题。这个采样大小一般不影响用户所关心到快慢问题。
从上面的讲述可知，∑-∆-ADC进行过采样(这相当于一个调制器，将输入的低频信号变换成高频信号)后还需在内部进行数字低通滤波器，最后再抽取滤波器(主要将刚高采样调制的高数码流信号进行抽样输出，这样的最终目的实现将高码流变为低码输出给MCU)输出数字信号。这里我讲述的大概是，∑-∆-ADC的其中一部分原理。最后告诉你的是过采样率大小是∑-∆-ADC内部的事，与用户所关注的代码结果关系并不大。
∑-∆-ADC原理相对于SAR-ADC原理复杂很多，他更多是数化的处理。有趣兴不防找找TI的这方面的资料看看(这里头有点深奥)。

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xixi风

2008-10-17 13:58:33
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10楼

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呵呵！谢谢版主了！
外部的基准源采用的直流电位差计，上面的贴上后面的为其技术参数！
采用的差分输入，AD前端没有做滤波，是直接接上去的。

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DC

2008-10-17 14:40:14
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在这样的测量时，你应该在差分输入两端分别增加RC低通。有过滤掉部分高频噪声，这样做对∑-∆-ADC采样和结果输出有利。本身∑-∆-ADC的分辨率就较高，如果不加滤波器的话测量出来的代码一至性就显得较差了。很简单的就是你的信号的部分噪声可能来自电源源处，处理不当会带来误测或不准确的测评效果。所以建议你采用电池组供电作为测试是一个好的技巧手段。

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xixi风

2008-10-17 15:19:46
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12楼

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还有一个问题，就是它的输入口是正和负，双端输入，是不是说它的内部没有反馈端。
还由它的那个增益是个什么意思！仅仅是对其输入信号的最大值的确定吗？还是有其他的
意思！

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